Approach to building inspection tests of digital devices on extra large integrated circuits

Vasyl Kulikov

Abstract


Considered the problem of reducing the running in constructing a complete test for digital devices designed with using the VLSI circuits. The process of constructing a test for a given fault is reduced to finding the terminal vertices in the signals assignment tree. To reduce the iteration is proposed the focused search method wich designed to apply as the general theoretical method for finding solutions in productional type systems. Describes the results of experiments with the combinational circuits.


References


Rich Goldman. Tech & Space: A Symbiotic Relationship // 9th IEEE East-West Design & Test Symposium. Final program. – 2011. – P.15.

Угрюмов Е.П. Цифровая схемотехника: учебн. пособие для вузов. – 3-е изд., – СПб.: БХВ-Петербург. – 2010. – 816 с.: ил.

Ibarra O.H., Sahni S. Polynomially complete fault detection problems // IEEE Trans. Corn- put. – 1975. – V. C-24. 3. – P. 242-249.

Roth J.P. Diagnosis of automata failures: a calculus and a method // IEEE Trans. Comput. – 1966. – V. 15. – № 7. – P. 278-291.

В.И. Хаханов, И. В. Хаханова, Е.И. Литвинова, О.А. Гузь. Верификация HDL-кода на основе механизма ассерций // Інформаційно-керуючі системи на залізничному транспорті. – 2009. – № 6. – С. 38-51.

Г.П. Аксёнова. Контролепригодная архитектура для самотестирования в программируемых логических матричных структурах // Автоматика и телемеханика. – 2010. – № 10. – С. 154-164.

Л.А. Золоторевич, А.В. Ильинкова. Разработка тестов для анализа контролепригодности СБИС на верхних уровнях проектирования // Автоматика и телемеханика. – 2010. – № 9. – С. 162-173.

Карибский В.В., Пархоменко П.П., Согомонян Е.С. Основы технической диагностики / Под ред. П.П. Пархоменко. – М.: Энергия, 1976. – 463 с.

Ермилов В.А. Об алгоритме построения для логических сетей с памятью входных различающих последовательностей относительно заданного множества неисправностей. // Автоматика и телемеханика. – 1981. – &N 3. – С. 133-139.

Сапожников В.В., Сапожников Вл.В. Об отношениях между неисправностями в комбинационных логических схемах //Автоматика и телемеханика. – 1978. – &N 1. – С. 167-171.

Hughes Joseph L.A., Mc Clusky E.J. Multiple stuck-at coverage of single stuck-at fault test sets. // International Test Conference Prec., Washington, D.C. – Sept.8-11. – 1986. – P. 368-374.

Ермилов В.А. Фокусированный поиск решения задач технической диагностики цифровых схем // Автоматика и телемеханика. – 1989. – № 8. – С. 144-154.

Schneider P.R. On the Necessity to Examine D-Chains in Diagnostic Test Generation - An Example. - IBM Journal of Research and Development. – 1967. – &N 11(1). – P. 114.




ISSN 2411-1031 (Print), ISSN 2518-1033 (Online)