Comparative analysis of construction methods of tests for digital devices

Vasyl Kulikov

Abstract


Considers the problem of low efficiency of the known deterministic methods for constructing tests for digital circuits. Showed that the main reason of their unsuitability for complex circuits is uncontrolled search of the all combinations of signals, that provide the display of fault on the output of faulty element, and the signals, that provide transporting of the distorted signal to one of circuits output. The result of the analysis is the conclusion about the preference of choice of the focused search method for tests construction.


References


Карибский В.В., Пархоменко П.П., Согомонян Е.С. Oсновы технической диагностики / Под ред. П.П.Пархоменко. -М.:Энергия,1976. - 463 с.

Бадулин С.С., Барнаулов Ю.М., Бердышев В.А. и др. Автоматизированное проектирование цифровых устройств / Под ред. С.С. Бадулина. -М.: Радио и связь, 1981, -240 с.

Уткин А.А. Универсальный подход к построению тестов.-Сборник научных трудов ИТК АН БССР, Минск, 1981. - C.5-16.

Компьютер и задачи выбора / Автор предисловия Ю.И. Журавлев. М.: Наука, 1989, - 208 c.

Иоффе М.И. Диагностирование логических схем. -М.: Наука, 1989, -159 с.

Roth J.P., Bouvicins W.G., Schneider P.R. Programmed Algorithms to Computer Tests to Detect and Distinguish Between Failures in Logic Circuits. -IEEE Trans., 1967, v.EC-16, № 5,p.567-580.

Armstrong D.B. On Finding a Nearly Minimal Set of Fault Detection Tests for Combinational Logic Nets. –IEEE Trans. on Electron. Comput., 1966, v.EC-15, p.66-73.

Sellers F.F., Hsiao M.Y., Bearnson L.W. Analyzing Errors with the Boolean Difference. -IEEE Trans. on Comput., 1986, v.C-17, p.676-683.

Armar V., Condulmari N. Diagnosis of Lage Combinational Networks. -IEEE Trans. on Electron. Comput.,1967, v.EC-16, № 10, p.675-680.

Schneider P.R., On the Necessity to Examine D-Chains in Diagnostic Test Generation - An Example. -IBM Journal of Research and Development, 1967, № 11(1), p.114.

Гэри М., Джонсон Д. Вычислительные машины и трудноразрешимые задачи.-М.: Мир, 1982, 416 с.

Куліков В.М. Підхід до побудови тестів перевірки цифрових пристроїв на надвеликих інтегральних схемах. // Інформаційні технології і безпека : сб. наук. пр. №1(1) / ІСЗЗІ НТУУ "КПІ". – Київ, 2011. – С. 83-92.




ISSN 2411-1031 (Print), ISSN 2518-1033 (Online)